单晶衍射仪

[ 基础信息 ]
生产国家 : 日本
制造厂商 : 日本株式会社理学
购置日期 : 2026-01-12
规格型号 : XtaLAB Synergy-DW
[ 分类信息 ]
设备类型 :
设备编号 : 202600826S
[ 联系信息 ]
联系人 : 徐凌
存放地址 : 化工院南114
联系电话 :
联系邮箱 :
[ 附加信息 ]
主要附件及配置 :

主要功能及特色 :

主要规格及技术指标 :

2.1 仪器X光源系统:
2.1.1 微聚焦X射线发生器:
2.1.1.1最大输出功率: 1200 W
2.1.1.2额定管电压: 20 ~ 60 kV (每步1 kV)
2.1.1.3额定管电流: 10 ~ 30 mA (每步 1 mA)
2.1.2 X射线光源系统:
2.1.2.1工作方式:微焦斑旋转阳极靶
2.1.2.2 Cu波长光源: 最大加载功率 ≥ 1200 W
2.1.2.3 Mo波长光源: 最大加载功率 ≥ 1200 W
2.1.2.4靶上焦斑: ≤ 100 µm2
2.1.3人工多层膜透镜(光源镜子):
2.1.3.1发散度:≤ 4.8 mR;长度:150 mm
挡蔽泄漏X射线的剂量相当于0.5 mm Pb铅当量,具有对X射线防护罩的保护及对X射线快门的保护的功能
2.2 测角仪系统:
2.2.1 Kappa测角仪:
2.2.1.1 轴:-82 ~ +82°范围
2.2.1.2 轴:0 ~ +360, 0.0001步进
2.2.1.3 2轴:-20 ~ +115°范围
2.2.1.4 轴:-20 ~ +115°范围
2.2.2 轴交叉精度球半径 20 μm
2.2.3 准直器 0.3 mm × 0.5 mm
2.2.4 样品至检测器距离:35 ~ 115 mm范围,程序可调
2.3 单色器:使用多层膜光学附件实现
2.4 二维面探测器系统:
2.4.1 类型:直接读取式,不使用感光媒介,直接曝光并读取。
2.4.2 感应单元:直接读取式硅阵列探测器系统
2.4.3 检测器活性单元面积:≥ 80 × 77.5 mm2
2.4.4 像素大小:≤ 100 × 100 m²
2.4.5冷却方式:空气冷却
2.4.6 动态范围:≥ 31 bit(每个像素)
2.4.7 读取时间:兼具 ≤ 7.4 ms和0 ms模式

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[ 开放机时安排 ]
[ 参考收费标准 ]