1. 自动进样器
1.1 十位样品连续自动进样；
1.2 样品旋转速度：不少于120转/min；转速可以通过电脑控制、消除样品取向效应；
1.3 测量角度范围：2θ = 0 º ~158 º；
1.4 样品尺寸：最大半径24.0 mm，深2.0 mm；
★1.5 样品位：不少于十位；
2. 高温样品台（高温原位分析系统）
2.1温度范围：室温~1500℃（空气条件下）、室温~1450℃（真空条件下）、室温~1300℃（氦气或氦气条件下）；
★2.2加热方式：环境加热方式；
2.3 角度范围：2θ=0~158°；
2.4 升温速率：150℃/min；
2.5 最小温度步进：0.1°；
2.6 样品尺寸：最大13.5 mm×25 mm，厚度0.3 mm。
配置
1. 整机设备
1.1 按上述“一、主机部分”和“二、附件部分”的技术要求配置一套。
1.2 外部冷却水系统(分体式): 内置冷却剂非风冷方式，满足3kw仪器满功率运行。
工作要求：连续工作；
控温精度：优于1℃；
供水流量：满足衍射仪工作的要求；
进水温度：可调；
保护：过热保护。
1.3 软件系统：要求配备PDXL软件或JADE软件。所有分析软件都配备正版数据库，并且实行终身软件免费升级。
1.3.1 基本数据处理：仅需读取测试数据，通过全自动图像拟合，即可迅速得到半高宽、积分强度、晶粒大小等详细处理结果。另外还可以进行使用数据库的RIR定量分析。
1.3.2 Rietveld分析软件：从数据库取得晶体结构参数、设定分析条件、显示晶体结构、显示定量分析结果等都可以通过设定好的界面简单操作。
1.3.3 应用分析：晶粒大小和晶格应力、晶格常数精修、结晶度等。
1.3.4 可以组合处理：具有自动分析、自动生成专业报告的功能。
2. 备品
2.1 原装X-射线光管一只；
2.2 专用工具一套；
2.3 提供一年的其它原装备品备件。
2.4 仪器保修期：整机保修三年。
2.5 有完善的售后服务系统: 卖方专业工程师实施免费安装，调试。保修期内免费维修，提供仪器终身维修维护服务。

（1）物相表征；（2）自动进样；（3）所有光学附件智能芯片识别、自动精确定位。

1.1 仪器X光源系统
1.1.1 X-射线发生器
最大输出功率: 3.0 kw，管电压，管电流的启动、调节、关闭均由计算机控制；
稳定度：±0.01%（外电路波动±10%）。
1.1.2 X-射线光管：Cu靶，陶瓷基复合光管；
满载功率：2.0 kw带左右两个快门；
额定电流：2~60 mA；
额定电压：20~60 kv；
最小焦斑尺寸：1.0×10.0 mm2。
1.2 测角仪系统
1.2.1 扫描方式:θ-θ可联动或单动，垂直方式；
1.2.2 高精度三重光学编码，角度最小步进：1/10000；
1.2.3 设定重复性：1/10000；
1.2.4 2θ扫描范围：-3º ~ 162º，★常规2θ扫描可从0.3º开始扫描；
1.2.5 测角仪半径：不小于285 mm，测角圆直径可连续改变；
1.2.6最大定位速度：1000º/min。
1.3 光学系统
1.3.1所有光路系统可程序自动调节。
所有光学附件均采用模块化设计，安装、拆卸方便快捷。所有光学附件智能芯片识别、自动精确定位。配备1500 oC高温台，可通惰性气体和真空气氛，控温精度1 oC。
1.3.2狭缝系统
1.3.2.1入射狭缝调整范围：0.05-7mm，最小步宽0.01mm；
1.3.2.2接受狭缝调整范围：0.05-7mm，最小步宽0.01mm；
1.3.2.3防散射狭缝调整范围：0.05-7mm，最小步宽0.01mm；
1.3.2.4另外配备5°索拉狭缝，限高狭缝10mm、5mm和2mm。
1.4 双探测器系统（两个探测器分别独立且同时安装）
★1.4.1双探测器臂：闪烁探测器和一维探测器分别独立且同时安装于衍射仪上，切换时无需调节光路系统，可自由选择并切换任何一个探测器；
1.4.2 配备独立的高计数率闪烁晶体计数器SC：必须为独立的闪烁晶体探测器，不可以通过一维阵列探测器获取，同时适合从低角度到高角度的检测。
最大计数：1,000,000 cps
线性范围：700,000 cps