透射式电子显微镜

[ 基础信息 ]
生产国家 : 日本
制造厂商 : 日本电子公司
购置日期 : 2004-04-01
规格型号 : JEM-1230
[ 分类信息 ]
设备类型 :
设备编号 : 0402010S
[ 联系信息 ]
联系人 :
存放地址 : -
联系电话 : 13875853336
联系邮箱 : 13099125@qq.com
[ 附加信息 ]
主要附件及配置 :

牛津能谱、奥林巴斯CCD

主要功能及特色 :

透射电镜应用领域广泛,适用于材料科学、纳米科学和生命科学。可用于材料的微观结构分析,包括普通透射(形貌观察)、高分辨透射(形貌观察)、X射线能谱(元素分析)、选区电子衍射(晶体结构分析)等。 以下材料来样拒绝受理:1)低熔点的材料(如:铟,锡,镓等,会产生相变及蒸镀效应);2)在电子束照射下会分解或释出气体的样品(如有机物、高分子等,会污染真空系统);3)具有强磁性或易被电磁透镜吸引的粉末型式样品或材料;4)未经正确处理或充分干燥的粉末样品。

主要规格及技术指标 :

电子枪: LaB6(六硼化镧) 点分辨率:0.23 nm 线分辨率:0.14 nm 加速电压: 200kV 束斑尺寸:1.0-25 nm 放大倍数(高倍):2000-1,500,000 放大倍数(低倍

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[ 开放机时安排 ]
[ 参考收费标准 ]